Горюнов Н.Н. Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении

Горюнов Н.Н. Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении

Горюнов Н.Н. Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении
Издательство «Энергия», 1970
Серия «Библиотека по радиоэлектронике»
Формат: djvu, pdf
Страниц: 104
Размер: 10.2 мб

Рассказывается о свойствах полупроводниковых диодов и транзисторов при их длительной работе и хранении. Описаны основные причины отказов приборов, связанные с явлениями на поверхности кристаллов, пробоем переходов, разрушением контактов. Приведены математические модели процессов отказов. Излагаются технические требования к качеству и надежности приборов, методы их проверки и обработки результатов испытаний. Даны сведения об ускоренных испытаниях и неразрушающем контроле качества. Приведены экспериментальные зависимости интенсивности отказов и изменения величин параметров приборов от времени и нагрузки. Даны рекомендации по проектированию надежной аппаратуры на диодах и транзисторах.

Краткое содержание:
Глава 1. Качество и надежность полупроводниковых приборов и их характеристики
Глава 2. Физика отказов диодов и транзисторов
Глава 3. Ускоренные испытания и неразрушающий контроль

Скачать Горюнов Н.Н. Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении

Upgrade to Premium


Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.