Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Название: Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Автор: Чернышев А.А.
Год: 1988
Издательство: М:, Радио и связь
Язык: русский
Формат: djvu, pdf
Страниц: 256
Размер: 16.1 Мб

В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.

Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих специальностей.

Краткое содержание:

Глава 1. Основы теории надежности
Глава 2. Виды внешних воздействии и их классификация
Глава 3. Механические воздействия
Глава 4. Климатические воздействия и агрессивные среды
Глава 5. Радиационные воздействия
Глава 6. Воздействие технологических факторов на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы.
Глава 7. Воздействие технологических и эксплуатационных факторов при изготовлении и использовании аппаратуры.
Глава 8. Виды и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Глава 9. Виды испытании и система испытании на надежность.
Глава 10. Прогнозирование надежности приборов и диагностика.
Глава 11. Организационные особенности обеспечения надежной работы полупроводниковых приборов и интегральных микросхем в аппаратуре.

Скачать Чернышев А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем